BIST（bistu）

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本文目录一览：

• 1、计算机主板BIST的设置,谁能帮帮我
• 2、ate和bist优缺点
• 3、可能是DFT最全面的介绍--BIST
• 4、在芯片测试中scan和bist有什么区别
• 5、bist怎么读

计算机主板BIST的设置,谁能帮帮我

1、如果经常使用不止一个戴尔坞站设备，并且希望最小化接入坞站时的初始时间，设置为“ENABLED”(默认设置)。如果希望*作系统对计算机连接的每个新的坞站设备都生成新的系统设置文件，设置为“DISABLED”。

2、时，按下“Del”键就可以进入CMOS的设置界面。要注意的是，如果按得太晚，计算机将会启动系统，这时只有重新启动计算机了。大家可在开机后立刻按住Delete键直到进入CMOS。

3、Advanced Chipset Features(高级芯片组特征设置)：通过此菜单可以对主板芯片组进行设置。 Integrated Peripherals(外部设备设定)：对所有外围设备的设定。如声卡、Modem和USB键盘是否打开等。 Power Management Setup(电源管理设定)：对CPU、硬盘和显示器等设备的节电功能运行方式进行设置。

4、在“advanced chipset features”项中的设置对机子的加速影响非常大，请大家多加留意。将“bank 0/1 dram timing”从“8ns/10ns”改为“fast”或“turbo”。“turbo”比“fast”快，但不太稳定，建议选“fast”。如果记忆体质量好可以选“turbo”试试，不稳定可以改回“fast”。

5、开机的时候长按F2键进入BIOS界面，通过方向键进【Secure】菜单，通过方向键选择【Secure Boot Control】选项，将其设定为 “Disabled”；通过方向键进入【Boot】菜单，通过方向键选择【Lunch CSM】选项，将其设定为“Enabled”；点击F10保存设置，重启系统，开机时点击ESC选择启动项即可。

6、这项设置决定系统引导的驱动器号，若想加快系统自检的速度可设为(C Only)，则系统不对其它驱动器自检而直接进入主引导硬盘。某些主板(如：ABIT BE6和BP6)拥有额外的IDE控制器，可以接入第三或第四组IDE设备，这时你应该选择EXT启动优先。

ate和bist优缺点

1、技术的优缺点与前景/ BIST的优点显著，如降低成本、提高测试覆盖率、缩短测试周期，以及增强客户服务。然而，它也带来了一些挑战，如占用芯片面积、增加额外引脚和可能存在的测试盲点。尽管如此，BIST作为ATE的补充，正在逐步成为推动测试效率的重要力量，与ATE将在未来长时间内共存并互补。

2、在现代电子制造业中，自动测试系统（ATE）在印制电路板（PCB）的生产、检测与维修环节中扮演着重要角色。如图所示，ATE的应用范围广泛，包括印制板光板和各种产品的测试。自动测试系统主要分为接触式和非接触式两大测试类别。

3、印制电路板所使用到的自动测试技术发展迅速，尤其以印制板在线测试系统（ATE）广泛应用于印制板光板及各种产品的印制电路板的生产、检测和维修等为主，如右图。ATE 的测试方法可分接触式测试和非接触式测试两大类。

可能是DFT最全面的介绍--BIST

1、BIST，即内置自测技术，是设计中嵌入的自我诊断力量，旨在减轻对自动测试设备(ATE)的依赖。作为DFT（设计可测试性）的基石，它在半导体行业的广泛应用中扮演着关键角色。例如，DRAM中的BIST技术，包括测试向量生成器、时序电路、模式选择电路和调试测试电路，它们共同构建了一个高效且灵活的测试体系。

2、扫描路径设计扫描路径法是一种针对时序电路芯片的DFT方案.其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器（Flip-Flop，简称FF）的时序电路网络的反馈。

3、对于存储器模块的测试一般由生产厂家提供专门的BIST电路，通过BIST电路可以方便地对存储单元地存取功能进行测试，所谓的BIST电路是指把测试电路做到IC里面，利用测试电路固有的能力自行执行一个测试存储器的程序。另外MBIST还可以解决RAM SHADOW的问题提高芯片的可测试性。

在芯片测试中scan和bist有什么区别

SCAN的功能是确认芯片中的寄存器和组合逻辑是否正确。BIST是用于确认memory块有没有坏点。所以SCAN和BIST覆盖率的含义就是芯片中多少百分比的寄存器和逻辑门被连接到了SCAN链上，多少百分比的memory可以被测试到。

测试的艺术与科学测试内容全面： 从逻辑功能的SCAN测试，到管脚功能的Boundary SCAN，再到存储器的BIST自检，信号的DC/AC Test，无线通信的RF Test，以及各种特殊功能的Function Test，每一步都严谨细致。

引言 边界扫描测试技术已经得到了国内外广泛的支持和关注。但是，这种测试技术要求被测器件必须具备IEEE1141标准所规定的BS（ boundary Scan）测试结构，对由非BS器件组成的逻辑簇的测试是目前边界扫描测试技术需要研究的关键问题。

SCAN TEST，应该是扫描测试．本人在做测试工序。我觉得SCAN TEST 应该是指DEVICE的MARK和LEAD是否清晰一般来说，我们测试不外乎就是输入固定的信号，然后测试输出。在测试时序电路中，如果我们想知道电路的中间点的状态，这时就用到了scan test。

bist怎么读

1、在词的开头或词中的话，念 scht （拼音的sh+t）， 词尾念st （拼音的s+t）。不过地方不同，也有特殊情况。

2、楼上网友的解释很不错，对熟的人/朋友用 Du （bist），对陌生人用 Sie （sind）。一些口语说法：我觉得你不错，对朋友可以说：我觉得你太好了 Du bist mir recht sympathisch /zmpati/.= Du bist/Sie sind echt prima！（度 必思特 俄稀特 普里麻）你真好（心）。

3、animals：英 [nmlz] 美 [nmlz]n.兽；动物( animal的名词复数 )；兽性；粗野残暴的人 动物（包括人类在内的任何生物）Watch any young human being， or any other young animal.注意儿童或其他幼小动物。

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